Realizacja potrzeb polskich użytkowników mikroskopów bliskich oddziaływań i mikroskopów elektronowych w zakresie zapewnienia wzorców wymiarów, temperatury i siły -

Proponowany zakres prac:

1. Rozwój możliwości pomiarowych w dziedzinie nanometrologii poprzez badanie możliwości zastosowania mikroskopów AFM i STM do pomiarów wzorców nanometrycznych (wysokości schodków, szerokości i odstępów kresek itp.),

2. Zastosowanie mikroukładów elektromechanicznych MEMS jako wzorce odniesienia w nanometrologii wymiarowej,

3. Badania na stanowisku pomiarowym nanometrologii wymiarowej, umożliwiające określenie wymiarów powierzchni rozwiniętej grzejnika wykonanych z nanostruktur.

Rodzaj: praca mgr, dr

Podobszar: Metrologia geometrii powierzchni dla precyzyjnej produkcji przemysłowej w skali mikro i nano

Temat główny: Nanoelektronika

Osoba do kontaktu ze strony GUM:

Dariusz Czułek
Laboratorium Długości
dariusz.czulek@gum.gov.pl

tel.: 22 581 95 43