Pracownia Wzorców Spektrofotometrycznych
Autor : Jolanta Gębicka
Opublikowane przez : Adam Żeberkiewicz
Usługi Pracowni
- Wzorcowanie wzorców (achromatycznych i barwnych) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D w odniesieniu do wzorca pierwotnego
- Wzorcowanie wzorców (achromatycznych) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D w odniesieniu do wzorca wtórnego
- Wzorcowanie wzorców (achromatycznych i barwnych) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ w odniesieniu do wzorca pierwotnego
- Wzorcowanie wzorców (achromatycznych) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ w odniesieniu do wzorca wtórnego
- Wzorcowanie wzorców długości fali w odniesieniu do wzorca pierwotnego
- Wzorcowanie wzorców długości fali w odniesieniu do wzorca wtórnego
- Wyznaczenie wartości składowych trójchromatycznych (X, Y, Z) i współrzędnych chromatyczności (x, y) na podstawie wyników pomiarów widmowego współczynnika przepuszczania wzorców barwnych
- Wzorcowanie spektrofotometrów (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D)
- Wzorcowanie spektrofotometrów (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ)
- Wzorcowanie spektrofotometrów (dla długości fali)